memcache.php by Harun Yayli



ServerKeyValueDelete
localhost:11211test:journal:526:focusScopeDesc
flag:1
Size: 2.5 KBytes
a:2:{s:5:"en_US";s:286:"

Journal is co vers technological, physical and circuit engineering problems in micro- and nano electronics. Special emphasis on new tre nds in lithography (optical, x-ray, elec tron, ion), etching, impurity implantati on, deposition and planarization in subm icron and nanometer scale.

";s:5:"ru_ RU";s:2264:"

Журн л посвящён технологи еским, физическим и с емотехническим аспек там микро- и наноэлект роники. Особое вниман е уделяется новым тен денциям в литографии ( оптической, рентгенов ской, электронной, ион ной), травлении, легир вании, осаждении и пл наризации на субмикр нном и нанометровом у ровнях. Значительное есто отводится пучко ым и плазменным техно логиям, в том числе мо екулярно-пучковой эп таксии и сухому травл ению, а также методам сследования и контро я поверхностей и мног ослойных структур. Об уждаются вопросы при орно-технологическог о моделирования и диа ностики технологичес ких процессов в реаль ом времени. Публикуют ся статьи о полупрово никовых приборах на б азе новых физических влений, таких как ква товые размерные эффе ты и сверхпроводимос ь. Данное направление исследований охватыв ает гетероструктуры, анотранзисторы и пол проводниковые реализ ации квантовых битов ( кубитов). Рассматрива тся проблемы анализа и синтеза электронных схем на биполярных и олевых транзисторах, в частности КМОП- и Би МОП-схем.

Delete